Elektronový mikroskop: Porovnání verzí

Smazaný obsah Přidaný obsah
značka: možný spam
→‎Výrobci elektronových mikroskopů: celá sekce je de facto jen reklama, odstraněno
Řádek 25:
[[Soubor:Ant SEM.jpg|thumb|hlava mravence v SEM]]
Bez nadsázky lze říci, že elektronové mikroskopy patří mezi nejvšestrannější přístroje pro pohled do mikrosvěta. Využívají se v mnoha oblastech jako např. v materiálovém výzkumu nebo v biologických aplikacích. Mohou poskytnout komplexní informaci o mikrostruktuře, chemickém složení a o mnoha dalších vlastnostech zkoumaného vzorku. Rastrovací elektronové mikroskopy se využívají pro zobrazení a analýzu povrchů téměř libovolně velkých vzorků (je-li dostatečně velká vakuová komora pro jejich umístění). Transmisní elektronové mikroskopy nacházejí využití při pozorování a analýze vnitřní struktury vzorku a pro zobrazení jednotlivých atomů. Nutnou podmínkou pro použití TEM je, že vzorek musí být dostatečně tenký (10-500 nm) aby jím svazek elektronů prošel. Zjednodušeně lze říci, že TEM vidí více než SEM, ale na úkor složitější přípravy vzorků a obtížnější interpretace získaných snímků.
 
== Výrobci elektronových mikroskopů ==
* [[Hirox]], [http://www.hirox.cz/ Hlavní stránky, Hirox]
* [[TESCAN]], [http://www.tescan.cz/ Hlavní stránky, TESCAN]
* [[FEI]] [http://www.fei.com/ Premium Electron Microscope Solutions and Technologies from FEI Company]
* [[Zeiss]] [http://www.zeiss.com/ Carl Zeiss International]
* [[JEOL]] [http://jeol.com/ JEOL Ltd. - scanning electron microscopes, transmission electron microscopes, scanning probe microscopes, mass spectrometers, NMR spectrometers, and semiconductor tools.]
* [[Hitachi]] [http://www.hitachi-hitec.com/global/em/index.html TEM / SEM / FIB / Nano-Probing System : Hitachi High-Technologies Corporation]
* [[CamScan]] [http://camscan.com/ CamScan]
* [[Delong Instruments]] [http://www.dicomps.com/ DELONG INSTRUMENTS a.s. | Welcome]
 
== Literatura ==