Peter Hirsch: Porovnání verzí

Smazaný obsah Přidaný obsah
m Robot: oprava ISBN; kosmetické úpravy
JanaJin (diskuse | příspěvky)
Funkce návrhy odkazů: Přidány 2 odkazy.
značky: editace z Vizuálního editoru editace z mobilu editace z mobilního webu pokročilá editace z mobilního zařízení Editační tipy Doporučeno: Přidaný odkaz
Řádek 1:
{{Infobox - vědec}}
'''Peter Bernard Hirsch''' (* [[16. leden|16. ledna]] [[1925]]) je [[Spojené království|britský]] [[fyzika|fyzik]] a materiálový [[inženýr]], který učinil zásadní příspěvky v oblasti transmisní elektronové mikroskopie kovů.<ref>{{cite web|url=http://www.materials.ox.ac.uk/peoplepages/hirsch.html|title=Personal Homepages Professor Sir Peter Hirsch FRS Emeritus Professor Department of Materials Oxford Materials|work=|archivedate=2016-08-24|archiveurl=https://web.archive.org/web/20160824000523/http://www.materials.ox.ac.uk/peoplepages/hirsch.html|access-date=2016-08-11|dead-url=yes}}</ref><ref>{{Cite journal | last1 = Wilkinson | first1 = A. J. | last2 = Hirsch | first2 = P. B. | doi = 10.1016/S0968-4328(97)00032-2 | title = Electron diffraction based techniques in scanning electron microscopy of bulk materials | journal = Micron | volume = 28 | issue = 4 | pages = 279 | year = 1997 | pmid = | pmc = }}</ref>
 
Vystudoval St Catharine's College v [[Cambridge|Cambridgi]]. V roce [[1946]] nastoupil do [[Cavendishova laboratoř|Cavendishovy laboratoře]], kde dělal doktorát z oboru [[krystalografie]] pod vedením [[William Lawrence Bragg|Williama Lawrence Bragga]]. Zde napsal také práce o struktuře [[uhlí]].
 
V polovině 50. let 20. století použil [[transmisní elektronový mikroskop]] ke zkoumání kovů a vyvinul podrobnou teorii potřebnou k interpretaci výsledků. V roce [[1965]] vydal s [[Archibald Howie|Archibaldem Howiem]], [[Michael J. Whelan|Michaelem Whelanem]], Pashleyem a Nicholsonem podrobnou práci o elektronové mikroskopii tenkých krystalů.<ref>P. Hirsch, [[Archibald Howie|A. Howie]], R. Nicholson, D. W. Pashley and [[M.J. Whelan|M. J. Whelan]] (1965/1977) Electron microscopy of thin crystals (Butterworths/Krieger, London/Malabar FL) {{ISBN|0-88275-376-2}}</ref><ref>{{Cite journal | last1 = Hirsch | first1 = P. B. | last2 = Howie | first2 = A. | last3 = Nicholson | first3 = R. B. | last4 = Pashley | first4 = D. W. | last5 = Whelan | first5 = M. J. | last6 = Marton | first6 = L. | doi = 10.1063/1.3047787 | title = Electron microscopy | journal = Physics Today | volume = 19 | issue = 10 | pages = 93 | year = 1966 | pmid = | pmc = }}</ref>