Elektronový mikroskop: Porovnání verzí
Smazaný obsah Přidaný obsah
Řádek 32:
* [[Hitachi]] [http://www.hitachi-hitec.com/global/em/index.html TEM / SEM / FIB / Nano-Probing System : Hitachi High-Technologies Corporation]
* [[CamScan]] [http://camscan.com/ CamScan]
* [[Delong Instruments]] [http://www.dicomps.com/ DELONG INSTRUMENTS a.s. | Welcome
== Literatura ==
|