Wikipedie

Hmotnostní spektrometrie sekundárních iontů: Porovnání verzí

Interaktivně procházet historii
← Přejít na předchozí porovnáníPřejít na další porovnání →
Smazaný obsah Přidaný obsah
VizuálníWikitext
oprava preklepu "jsou jsou" u obrazku
m překlepy
Řádek 1:
[[Image:IMS3F pbmf.JPG|thumb|300px|right|Podoba dnešního zařízení SIMS]]
'''Secondary ion mass spectrometry''' (SIMS) je technika sloužící k analýze složení povrchů pevných látek a tenkých vrstev pomocí vyprašováním povrchu bombardujícími ionty a schromažďovánímshromažďováním (analyzováním) vyražených sekundárních iontů. Sekundární ionty emitované z povrchu materiálu, pomocí "vyprašovacího" procesu, se používající k analýze chemického složení materiálu. Tyto částice však představují jen malý zlomek částic emitovaných ze vzorku. Sekundární ionty se měří hmotnostním spektrometrem určující prvkové, isotopicizotopové, nebo molekulární složení povrchu. SIMS je jedna z nejcitlivějších analýz povrchů, která je schopna detekovat prvky, i když jsou přítomny řádově jen v nanometrových oblastech.
ZZ
 
== Historie a vývoj metody==
 
Řádek 38:
 
== Aplikace ==
* Této metody se využívá pro zkoumání sloužení látek a jejich příměsí. Hojně se tedy využívá ve [[SpektometrieSpektrometrie|spektrometrii]].
* Používá se také pro zjišťování tloušťky vrstev molekul nebo prvků. Zkoumají se například vrstvu oxidu křemíku na syrovém křemíku, tak touto metodou lze zjistit šířku této vrstvy. Povrch vzorku se odprašuje a v detektoru zjišťujeme, jestli stále detekujeme ionty kyslíku. Až se přestanou tyto ionty detekovat, tak je jasné, že byla odprášena celá vrstvu oxidu křemíku. Tento čas je pak přímo úměrný tloušťce této vrstvy.
 
Citováno z „https://cs.wikipedia.org/wiki/Hmotnostní_spektrometrie_sekundárních_iontů“