Rastrovací elektronový mikroskop: Porovnání verzí
Smazaný obsah Přidaný obsah
Bez shrnutí editace značka: editace z Vizuálního editoru |
Bez shrnutí editace značka: editace z Vizuálního editoru |
||
Řádek 1:
[[Soubor:ScanningMicroscopeJLM.jpg|náhled|right|Analogový typ SEM]]
'''Rastrovací''', nebo též '''skenovací, či řádkovací elektronový mikroskop'''
(angl. ''scanning electron microscope'', SEM), je [[elektronový mikroskop]], který využívá k zobrazování ''pohyblivého'' svazku [[elektron]]ů. Slouží převážně k topografické analýze různých materiálů převážně velmi malých objektů, či objektů s detaily které běžný optický mikroskop nerozpozná.
== Princip SEM ==
| |||