Spektrometr: Porovnání verzí
Smazaný obsah Přidaný obsah
Bez shrnutí editace |
smazání odkazu na neplatné webové stránky |
||
Řádek 5:
Spektrometry lze zkoumat například prvkové chemické složení vzorku na bázi měření spektra odraženého [[světlo|světla]] a jeho [[Absorpce|absorpci]] ve vzorku nebo na základě měření spektra světla vznikajícího ve vzorku po vnější excitaci (plazmou, jiskrou, RTG zářením, ...), protože různé chemické prvky vykazují v různých chemických vazbách různé spektrální vlastnosti.
Kromě analýzy prvkového chemického složení jsou spektrometry také využívány pro měření spektrálních závislostí [[Optické vlastnosti|optických vlastností materiálů]] - [[odrazivost]]i, [[propustnost]]i, [[emisivita|emisivity]] a [[pohltivost]]i.
Spektrometry se často využívají při [[vesmír|kosmickém průzkumu]] u [[Kosmická sonda|sond]] pro získávání dat o složení těles. Dále pak pro měření [[optických vlastností]], při výrobě materiálů, řízení výroby a kontrolách chemického složení.
| |||