PopisJim Mattis with Sheikh Tamim bin Hamad Al-Thani in Qatar (23519218878).jpg
Secretary of Defense Jim Mattis meets with Qatar’s Emir Sheikh Tamim bin Hamad Al-Thani at Al Udeid Air Base in Qatar on Sept. 28, 2017. (DOD photo by U.S. Air Force Staff Sgt. Jette Carr)
šířit – kopírovat, distribuovat a sdělovat veřejnosti
upravovat – pozměňovat, doplňovat, využívat celé nebo částečně v jiných dílech
Za těchto podmínek:
uveďte autora – Máte povinnost uvést autorství, poskytnout odkaz na licenci a uvést, pokud jste provedli změny. Toho můžete docílit jakýmkoli rozumným způsobem, avšak ne způsobem naznačujícím, že by poskytovatel licence schvaloval nebo podporoval vás nebo vaše užití díla.
https://creativecommons.org/licenses/by/2.0CC BY 2.0 Creative Commons Attribution 2.0 truetrue
Tento soubor obsahuje dodatečné informace, poskytnuté zřejmě digitálním fotoaparátem nebo scannerem, kterým byl pořízen. Pokud byl soubor od té doby změněn, některé údaje mohou být neplatné.
Značka fotoaparátu
NIKON CORPORATION
Model fotoaparátu
NIKON D4
Autor
Jette Carr; Staff Sgt.; USAF
Expozice
1/200 s (0,005)
Clona
f/5,6
Nastavení ISO citlivosti
2 500
Datum a čas pořízení obrázku
28. 9. 2017, 06:13
Ohnisková vzdálenost
40 mm
Nadpis
170928-D-GY869-340
Zdroj/poskytovatel
(DOD photo by U.S. Air Force Staff Sgt. Jette Carr)
Zdroj
Digital
Název obrázku
Secretary of Defense Jim Mattis meets with Qatar’s Emir Sheikh Tamim bin Hamad Al-Thani and Defense Minister Khalid bin Mohammad Al Attiyah at Al Udeid Air Base in Qatar on Sept. 28, 2017. (DOD photo by U.S. Air Force Staff Sgt. Jette Carr)
Krátký název
170928-D-GY869-340
Zobrazené město
Al Udeid Air Base
Orientace
Normální
Rozlišení obrázku na šířku
240 dpi
Rozlišení obrázku na výšku
240 dpi
Použitý software
Adobe Photoshop Lightroom 5.7.1 (Macintosh)
Datum a čas vytvoření obrázku
28. 9. 2017, 09:05
Expoziční program
Ruční
Verze Exif
2.3
Datum a čas digitalizace
28. 9. 2017, 06:13
Expoziční čas (APEX)
7,643856
Clona (APEX)
4,970854
Změna expozice
−0,33333333333333
Nejmenší clona
3 APEX (f/2,83)
Způsob měření
Vzorkové
Světelný zdroj
Není známo
Blesk
Blesk byl použit, byl zaznamenán odraz blesku, vynucené použití blesku