FEI Company

americká firma

FEI Company je společnost zabývající se vývojem a výrobou elektronových mikroskopů, byla založena v roce 1971. V současnosti jde o vedoucího dodavatele[3] elektronově a iontově optických zařízení pro širokou škálu výzkumníků, vývojářů i výrobců pracujících v nanometrech. Hlavními odběrateli jsou organizace působící v oblastech:

  • výzkumu a vývoje – 3D nanocharakterizace, 3D nanoprototypování, in situ nanoprocesy
  • přírodních věd – biomateriály, molekulární biologie, strukturální biologie, systémová biologie
  • elektroniky – 3D metrologie, editování integrovaných obvodů, analýza defektů elektronických součástek
  • průmyslu – automatizovaná mineralogie, kriminalistika, metalurgie, metrologie
FEI Company
Základní údaje
Právní forma nadnárodní
Datum založení 1971
Zakladatelé Lynwood Swanson, Noel Martin
Sídlo Hillsboro, Oregon, USA
Adresa sídla Hillsboro, 971 24, USA
Souřadnice sídla
Klíčoví lidé Dr. Don R Kania, Prezident společnosti a CEO
Tony Trunzo, Výkonný viceprezident a CFO
Charakteristika firmy
Oblast činnosti Vědecké a technické nástroje – elektronové mikroskopy
Produkty FIB – fokusovaný iontový paprsek
Rastrovací elektronové mikroskopy
Transmisní elektronové mikroskopy
Micro Computing Tomography
Obrat 930 mil. USD (2015)[1]
Provozní zisk 156,2 mil. $ (2013)
Výsledek hospodaření 124 mil. USD (2015)[1]
Celková aktiva 1,4 mld. USD (2015)[1]
Zaměstnanci 3,060 (2015)[1]
Identifikátory
Oficiální web www.fei.com
LEI ENU6JE4QCEWJ9YIZ4340
Některá data mohou pocházet z datové položky.
FEI Czech Republic s.r.o.
Základní údaje
Datum založení 8. září 1992
Sídlo Brno, Česká republika
Adresa sídla Hillsboro, 971 24, USA
Charakteristika firmy
Produkty elektronové mikroskopy
Obrat 8,3 mld. Kč (2015)[2]
Výsledek hospodaření 257 mil. Kč (2015)[2]
Celková aktiva 4,5 mld. Kč (2015)[2]
Vlastní kapitál 2,8 mld. Kč (2015)[2]
Zaměstnanci 950 (2018)[2]
Mateřská společnost FEI CPD B.V. (100%)
Identifikátory
IČO 46971629
LEI ENU6JE4QCEWJ9YIZ4340
Některá data mohou pocházet z datové položky.

Nástroje vyráběné FEI umožňují za pomoci elektronů, rentgenového záření a iontů analyzovat a manipulovat s částmi hmoty menšími než je hodnota jednoho angströmu, tedy menšími, než vlnová délka světla (na úrovni velikosti atomů). Nástroje FEI kombinují iontnová a elektronová záření (DualBeam™ systém (SDB)), poskytují 3D obraz a zjednodušují manipulovatelnost se vzorkem. FEI vyvíjí rastrovací (SEM) a transmisní (TEM) elektronové mikroskopy a X-ray mikro tomografy (mikro CT) . Hlavní výzkumná střediska FEI sídlí v Severní Americe (HillsboroOregon, USA) a v Evropě (BrnoČeská republika, EindhovenNizozemí) a prodávají svá zařízení do více než 50 zemí celého světa.

Jednou z důležitých dceřiných společností je FEI Czech Republic s.r.o. (dříve DELMI,spol. s r.o. a Philips Electron Optics Česká republika s.r.o.) se sídlem v Brně.

HistorieEditovat

FEI ve světě

  • 1949 - Philips Electron Optics uvádí na trh jako první na světě komerční využitelný transmisní elektronový mikroskop (TEM).
  • 1958 - Philips Electron Optics prolomil hranici dosavadní viditelnosti 10 Ångströmů pomocí TEM EM200.
  • 1971 – Založena společnost FEI, aby poskytovala vysoce čisté, orientované monokrystalické materiály pro výzkum autoemise.
  • 1981 – FEI rozvíjí (LMI – liquid metal ion source – iontový zdroj na bázi tekutého kovu)
  • 1982 - FEI prodává první tubuss iontovým svazkem používající zdroj na bázi tekutého kovu
  • 1983 - FEI prodává první tubus s elektrostaticky fokusovaným svazkem
  • Micrion is founded to develop ion beam systems for mask repair.)elektronový paprsek. Micrion se zaměřuje na rozvoj iontového paprsku pro opravu masek. Je založen Micrion, který vyvíjí systémy s iontovým svazkem pro opravy masek
  • 1985Micrion, vyvíjející systémy s iontovým svazkem pro opravy masek, prodává své první systémy.
  • 1989 - FEI prodává první kompletní FIB (zaostřený iontový svazek) pracovní stanici.
  • 1990 - Philips Electron Optics uvádí na trh SEM pro šestipalcové polovodičové substráty.
  • 1993 - První pracovní stanice DualBeam™ (zkřížený svazek elektronů a iontů pro diagnostiku struktur a jejich opracování včetně schopnosti vytvořit vzorek pro transmisní mikroskop, odprášení části vzorku a pohled do nitra vzorku) (FIB/SEM) produkovaná FEI a Philips Electron Optics.
  • 1995 - FEI prodává stou FIB pracovní stanici.
  • 1996 - FEI prodává pětitisící zdroj LMI. Micrion vydává svoji sérii 8000 FIB.
  • 1996 - Philips Electron Optics získává se společností ElectroScan také jejich technologii ESEM (schopnosti zobrazit jakýkoliv vzorek bez jeho předběžné úpravy včetně dynamických experimentů, dobrých izolantů atd).
  • 1996 - Philips Electron Optics získává Delmi Brno.
  • 1997 - FEI a Philips Electron Optics fúzují. Vzniká první in-line DualBeam Spojení elektronového a iontového tubusu (svazku) v jednom zařízení
  • 1998 - FEI a Micrion nezávisle na sobě nabízejí membránový ořez pro výpočetní průmysl (zálohování dat)
  • 1998 - Představen TEM (Tecnai) vše v jednom.
  • 1999 - FEI získává společnost Micrion Corporation a integruje její produktovou řadu.
  • 2000 - Představena první malá stanice DualBeam.
  • 2001 - FEI představuje DualBeam systém pro laboratoře.
  • 2001 - První monochromátor (přístroj vyčleňující úzký obor vlnových délek z širšího spektra elektromagnetického vlnění) TEM. První TEM s monochromátorem – elektronovým svazkem s minimalizovaným rozptylem energie primárních elektronů
  • 2002 - FEI získává společnost Atomika (SIMS).
  • 2003 - FEI získává společnost Revise Inc.
  • 2003 - FEI získává společnost Emispec.
  • 2004 - FEI prolamuje dosavadní bariéru[zdroj?] rozlišení 1 angström s přístrojem 200kV Tecnai™.
  • 2005 - FEI představuje transmisní elektronový mikroskop Titan se subangströmovým rozlišením
  • 2006 - Korigovaný transmisní elektronový mikroskop prolamuje hranici 0,5 angströmu
  • 2008 - FEI představuje Magellan, rastrovací elektronový mikroskop s extrémně vysokým rozlišením
  • 2011 - FEI získává Till Photonic, Mnichov, Německo (světelné mikroskopy)
  • 2012 - FEI získává společnost Aspex, Pittsburgh, USA
  • 2012 - FEI získává společnost Visualisation Sciences Group, Boedeaux, Francie (3D vizualizační software)
  • 2014 - FEI získává společnost Lithicon (Trondheim, Norsko a Canberra, Austrálie)
  • 2014 - FEI otevírá nové Technologické centrum v Brně
  • 2016 - FEI otevírá nové školící centrum pro servisní techniky a zákazníky z celého světa v Brně

Produkty FEI v BrněEditovat

Brněnská pobočka FEI je poměrně úzce zaměřena na elektronové mikroskopy a FIB:

Rok Typ přístroje Vyrábí se
v současnosti
Specifikace Typ Fotografie
1993 EM208 ne První (TEM) přístroj vůbec TEM
1996 EM208S ne Inovovaná verze původního přístroje s motorizovanými posuvy TEM
1997 XL30TMP ne První SEM přístroj, nárůst aktivit SEM
1998 XL30ESEM ne První přístroj s ESEM technologií SEM
2000 XL40ESEM ne První ESEM se stolkem 150x150mm SEM
2000 Morgagni ne Radikálně přepracovaná verze rutinního TEM se zabudovanou digitální kamerou TEM
2001 Quanta ne Nová rodina rutiních SEM s možností zobrazit a analyzovat jakýkoliv vzorek SEM
2002 Quanta HV ne Vysokovakuová verze nové rodiny SEM
2003 Quanta FEG ne První přístroj a autoemisní katodou s nejširším zaběrem použitých detekcí a technologií SEM
2003 Quanta 3D ne První SDB s ESEM technologií SDB
2004 Tecnai G2 Spirit ano Transmisní mikroskop 120kV pro široké využití TEM
2004 Tecnai G2 20 ano Transmisní mikroskop 200kV pro široké využití TEM
2005 Nova NanoSEM ano První ultravysokorozlišovací SEM SEM
2005 Quanta MkII ano Inovace řady Quanta SEM
2005 Inspect ano Rutinní přístroj určený především pro kontrolní účely SEM
2006 Quanta FEG MKII ano Inovace rady Quanta FEG SEM
2007 Quanta 3D FEG ne Nový SDB střední třídy s ESEM technologií a autoemisní tryskou SDB
2007 Tecnai G2 30 ano Transmisní mikroskop 300kV pro široké využití TEM
2008 Versa 3D ano Dual Beam s ESEM, FEI představuje nejuniverzálnější Dual Beam nástroj k dnešnímu dni. SBD
2008 Magellan ne První SEM s extrémně vysokým rozlišením SEM
2008 Quanta 3D 200i ne Inovace řady Quanta 3D SDB
2011 Helios DualBeam ano Helios nalolab dualbeam XHR (extrémně vysoké rozlišení) SBD
2012 Verios XHR SEM ano Verios je druhá generace přístroje Magellan, vede XHR (extrémní vysoké rozlišení) SEM rodiny. SEM
2013 Talos ano Talos je nová generace v TEM, umožňojuje rychlý přístup k 2D a 3D dat. TEM
2013 Scios Dualbeam ano ultra-vysokým rozlišením analytický systém Dual Beam, který poskytuje vynikající 2D a 3D, včetně magnetického materiálu. SDB
2014 Teneo UHR SEM ano Ultra vysoké rozlišení obrazu a vysokou propustností analytická výkonost SEM
2014 Aspex Explorer ano SEM přístroj pro průmysl kontrolou kvality SEM

Trhy FEI Czech Republic, s.r.o.Editovat

Členění přístrojového trhuEditovat

Členění trhu dle odběrateleEditovat

Polovodičový průmysl Průmysl obecně Vědecký výzkum

ReferenceEditovat

  1. a b c d FEI Company 2015 Annual Report
  2. a b c d e Výroční zpráva společnosti FEI Czech Republic s.r.o. za rok 2015
  3. nasdaq.com - FEI Company Rings The NASDAQ Stock Market Opening Bell

Externí odkazyEditovat

https://thermofisher.jobs.cz